Микроскопы: лабораторные, исследовательские, металлографические

	О компании
	Новости
	Контакты
	Профессиональные микроскопы mScope
	Профессиональные микроскопы MEIJI (Япония)
	Микроскопы эконом-класса
	Видеомикроскопы HIROX
	Цифровые видеокамеры
	Программное обеспечение для микроскопии

Новости

Приглашаем посетить 7-ю Международную специализированную выставку приборов и оборудования для лабораторного контроля в промышленности. Дата проведения: 18.03.2009-20.03.2009, Москва, Спорт комплекс "Олимпийский".

Measurex-2009, 19–22 марта 2009,Россия, Москва<br>6-й Международный специализированный салон инструментов, приборов и оборудования для измерений, а также новейших разработок в области измерения.

Фотоника - 2009. 4-я Международная специализированная выставка оптической, лазерной и оптоэлектронной аппаратуры, комплектующих изделий и компонентов.<br>Москва, 20-23 апреля 2009 г. Место проведения: Экспоцентр, Красная Пресня<br><br>

Новинка! <a target=_blank href=http://www.ozon.ru/context/detail/id/3416192/?partner=englang>Техническая микроскопия. С микроскопом на "ты"</a><br><br> Данная книга представляет собой развитие темы технической микроскопии, поднятой автором в книге "С микроскопом на "ты" (СПб.: Интерлаб, 2000). За прошедшее время произошли изменения в номенклатуре световых микроскопов, появились вопросы, связанные с ...

Новинка! Техническая микроскопия. С микроскопом на "ты"

Данная книга представляет собой развитие темы технической микроскопии, поднятой автором в книге "С микроскопом на "ты" (СПб.: Интерлаб, 2000). За прошедшее время произошли изменения в номенклатуре световых микроскопов, появились вопросы, связанные с ...

Новинка! <a target=_blank href=http://www.ozon.ru/context/detail/id/2809532/?partner=englang>Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия</a><br><br>Монография посвящена особенностям конструкции современных просвечивающих электронных микроскопов (ПЭМ), спектроскопии потерь энергии электронов (СПЭЭ), энерго-дисперсионной электроннозондовой рентгеновской спектроскопии (ЭДС), а также цифровым системам ...

Новинка! Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия

Монография посвящена особенностям конструкции современных просвечивающих электронных микроскопов (ПЭМ), спектроскопии потерь энергии электронов (СПЭЭ), энерго-дисперсионной электроннозондовой рентгеновской спектроскопии (ЭДС), а также цифровым системам ...

Новинка! <a target=_blank href=http://www.ozon.ru/context/detail/id/3297154/?partner=englang>Микроскопические методы исследования материалов</a><br><br>За последние десятилетия в области материаловедения был совершен огромный скачок вперед. Одновременно очень быстро развивались и оптические методы исследования материалов. В компьютерной микроскопии произошли столь значительные изменения, что появилась ...

Новинка! Микроскопические методы исследования материалов

За последние десятилетия в области материаловедения был совершен огромный скачок вперед. Одновременно очень быстро развивались и оптические методы исследования материалов. В компьютерной микроскопии произошли столь значительные изменения, что появилась ...

Новинка! <a target=_blank href=http://www.ozon.ru/context/detail/id/2192005/?partner=englang>Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля</a><br><br>Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения. Чрезвычайно четко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микроскопов.

Новинка! Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля

Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения. Чрезвычайно четко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микроскопов.